Wave Test System TCK-serie Thermal Profiler K-type thermocouple voor elektronische assemblage

Wave Test System TCK-serie Thermal Profiler K-type thermocouple voor elektronische assemblage

Inleiding

Het elimineren van de invloed van factoren als gewicht, uniformiteit van de steekproef, consistentie van de verwarmingskoers, atmosferische druk en verschillen in de doorstroming,de correspondentie tussen TG- en DTA/DSC-curves is beterAfhankelijk van het feit of een bepaald thermisch effect overeenkomt met een massaverandering,Het zal helpen bij het identificeren van het fysieke en chemische proces dat overeenkomt met het thermische effect (zoals het onderscheiden van smeltpieken, kristallisatiepieken, faseveranderingspieken, ontbindingspieken, oxidatiepieken, enz.).Het kennen van de huidige werkelijke massa van het monster bij de reactietemperatuur vergemakkelijkt een nauwkeurige berekening van de reactieenthalpie.

De golflengte van het product kan continu en automatisch worden aangepast en de nauwkeurigheid wordt sterk verbeterd.De golflengtefout van traditionele elementaire analysatoren is over het algemeen 20 nm (bij voorkeur ± 5 nm) verhoogd tot de huidige 3 nmDit maakt het product in staat om zijn toepassingsbereik uit te breiden en tegelijkertijd de nauwkeurigheid van analyse en detectie te verbeteren.met een breedte van niet meer dan 600 mm, laaggelegeerd staal, hooggelegeerd staal, ruw gietijzer, ductiel ijzer, gelegeerd gietijzer en andere materialen.gecontroleerd door een merkcomputer en volledig op Chinese menu's gebaseerdHet kan voldoen aan de behoeften van metallurgie, machines, chemische industrie en andere industrieën voor multi-element analyse van materialen voor de oven, eindproducten, inkomende materiaal testen, enz..

Kenmerken

1. warmteprofieler 2. isolatie doos

3Temperatuurtestlijn 4.

5. Charger 6. High-temp kleefband

7Software-cd 8 schroevendraaier 9 pincet

10Geïsoleerde handschoenen 11.

12Scheren 13. Instrumenten doos.

14Gebruikershandleiding 15. Aanvaardingscertificaat

16. RF-ontvanger (Kies samenstelling)

17. Wave Test System (Kies samenstelling)

Belangrijkste technische specificaties

1,Thermocouple: K-type thermocouple

2,Monsteringsinterval:0.05sec---600sec Set met software

3,Registratiegegevens: 80000 punten/kanaal, kan 20 sets profiel opnemen

4,Resolutie: 0,1°C

5Temperatuurmetingsbereik: 0°1000°C

6,Temperatuurmetingsnauwkeurigheid: ±1,0°C

7Totaal vermogen: ≤ 120 mW

8"Bedieningsspanning:3.6VDC, oplaadbare batterij

9Afmetingen: 195 (L) × 82 (W) × 21 (H) mm 195 (L) × 103 (W) × 21 (H) mm

10, Isolatie doos:245 ((L) × 100 ((W) × 30 ((H) mm

10Startmodus: handmatig, aangegeven tijdstip of aangegeven temperatuur

11"Registratie-modus: monitor/opname"

12Verbindingsmodus: USB/RF

13,Softwareversie:Profilermanager 2.0

Productbibliotheekbeheerder

Machinebibliotheekmanager

Bibliotheekbeheerder

Receptbibliotheekbeheerder

Gegevensanalyse

PWI

Piektemperatuur, Tijd van overtopping de Temperatuur

Tijd tussen Temp ((Reflow)

Slag tussen Temp ((Reflow)

De helling tussen Times ((Wave)